Dienstag, 6. Mai 2008 - VDI/VDE-Expertenforum 2008

Dienstag   Mittwoch

 

 

CCN Ost, Raum Seoul

 

13:15

Begrüßung

W. Daum, Vorsitzender des Fachgebietes 2.10 Gemeinschaft Experimentelle Strukturanalyse (GESA)

 

 

 

Vortragsreihe 1:

Aktueller Stand von Technik und Forschung

Sitzungsleitung: W. Daum, BAM Berlin

 

13:30

Lock-in-Interferometrie als zerstörungsfreies Prüfverfahren

– Prinzip und Einsatzmöglichkeiten –

G. Busse, IKT-ZfP Universität Stuttgart

 

14:00

Material- und Komponentenvalidierung mit optischen Messmethoden

T. Walz, Dantec Dynamics GmbH Ulm

 

14:30

Charakterisierung von Compositen mittels röntgenoptischer Verfahren

M. Hentschel, BAM Berlin

 

15:00

Internetbasierte Strukturüberwachung

P. Scholz, ADDITIVE GmbH Friedrichsdorf  

 

15:30

Kaffeepause

 

 

 

 

 

Vortragsreihe 2:

Luft- und Raumfahrt; Windenergieanlagen

Sitzungsleitung: T. Walz, Dantec Dynamics GmbH Ulm

 

16:00

Advanced Structural Inspections of Composite Structures

R. Gregory, Composite Inspection Ltd.

 

16:30

NDT on a Boeing 767 by Shearography

R. Klieber, SR Technics

 

17:00

Rotorblattmonitoring bei Windenergieanlagen durch integrierte faseroptische Sensorik

W. Habel, V. Schlüter, BAM Berlin

 

17:30

Überwachungstechnik für Rotorblätter von Windkraftanlagen und deren Erprobung in Fatigue-Tests

B. Frankenstein, L. Schubert, D. Hentschel, FhG-IZfP Institutsteil Dresden

 

18:00

Ende der Vorträge des ersten Tages

 

 

19:30

Gemeinsame Abendveranstaltung

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  • SENSOR+TEST Kongress - verlängerter Einsendschluss

    23.09.2008

    Der Einsendeschluss für Vortragseinreichungen zu den SENSOR+TEST Kongressen SENSOR 2009, OPTO 2009 und IRS² 2009 wurde auf Grund ...

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