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Die Fachmesse SENSOR+TEST mit begleitenden Kongressen in Nürnberg gilt heute weltweit als führendes Forum für Sensorik sowie Mess- und Prüftechnik. Vom Mikrosensor bis zur komplexen Testanlage, von einsatzbereit konfektionierten Komponenten bis zu individuellen Dienstleistungen – die SENSOR+TEST steht für das komplette Spektrum messtechnischer Systemkompetenz.
Fachleute aus aller Welt präsentieren ihre Beiträge auf dem
OPTO Kongress 2008
unter der Leitung von Prof. Dr. E. Wagner
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM, Freiburg, dem
unter der Leitung von Prof. Dr. E. Wagner
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM, Freiburg, dem
VDI/VDE-Expertenforum 2008
unter der Leitung von Prof. Dr. W. Daum
Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin, der
unter der Leitung von Prof. Dr. W. Daum
Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin, der
PTB-Konferenz: Optische Methoden in der Mengen- und Durchflussmessung
unter der Leitung von Dr. A. Odin
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig, dem
unter der Leitung von Dr. A. Odin
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig, dem
Workshop über sensorik-relevante Förderprogramme in Europa und Deutschland
unter der Leitung von Dr. G. Tschulena
sgt Sensorberatung Dr. Guido Tschulena, Wehrheim und dem
unter der Leitung von Dr. G. Tschulena
sgt Sensorberatung Dr. Guido Tschulena, Wehrheim und dem
4. Internationales Infrarotforum infraR&D 2008
unter der Leitung von M. Wiechmann
ITC Germany und in Zusammenarbeit mit FLIR Systems GmbH, Frankfurt.
unter der Leitung von M. Wiechmann
ITC Germany und in Zusammenarbeit mit FLIR Systems GmbH, Frankfurt.
Hier können Sie das komplette Kongressprogramm herunterladen:
SENSOR+TEST 2008 - Kongressprogramm
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